標題：LX9600分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

產(chǎn)品概述

LX9600分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是半導體分立器件動態(tài)參數(shù)測試的設(shè)備, 用于MOSFET、IGBT、快恢復二極管、雙極型三極管的動態(tài)參數(shù)測試。測試原理符合相應(yīng)的國家標準、國家用標準，系統(tǒng)為模塊化、開放式結(jié)構(gòu)，具有升級擴展?jié)撃堋?/span>

LX9600分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)系統(tǒng)特點

　　PC機為系統(tǒng)的主控機

　　◆ 菜單式測試程序編輯軟件操作簡便

　　◆ 正負脈沖激勵源

　　◆ 美國Lecroy 400M存儲示波器用于時間測量，zui小時間測量分辨率200pS

　　◆ 漏極電壓達600V

　　◆ 漏極電流達200A

　　◆ 通過IEEE488接口連接校準數(shù)字表傳遞國家計量標準對系統(tǒng)進行校驗

　　◆ Prober接口、Handler接口可選(16Bin)

　　◆ 可為用戶提供豐富的測試適配器

　　測試參數(shù)

　　開啟時間Ton; 關(guān)斷時間Toff;延遲時間Td;

　　存儲時間Ts; 上升時間Tr; 下降時間Tf;

　　二極管反向恢復時間Trr;

　　柵極總電荷Qg;柵源充電電量Qgs;柵漏充電電量Qgd等參數(shù)。

測試對象

　　二極管： BVR、IR、VF、VZ、RZ

　　三極管： BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT

　　可控硅： BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、

　　IH、IL、VGT、VON

　　場效應(yīng)管： BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP

　　IGBT： BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)

　　達林頓矩陣：ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO

　　單結(jié)晶體管：Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2

　　光敏二、三極管：ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE

　　光 耦： CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR