標題：泰克2601B-PULSE 10 µs源測量單元

產品概述

泰克2601B-PULSE 10 µs源測量單元System SourceMeter®10 µs 脈沖發生器/源測量單元 (SMU) 儀器將高電流/高速脈沖發生器的功能與傳統 SMU 的測量及全部功能集于一臺儀器中。其優異的 10 A @ 10 V 快達10 μs 脈沖寬度和全 1 MS/s 數字化功能大大地提升了從臺式檢定到高度自動化脈沖式 I-V 生產測試等應用的效率。

泰克2601B-PULSE 10 µs源測量單元

1.無需手動脈沖調整即可實現高脈沖保真度

通過 2601B-PULSE 控制回路系統，高達 3μH 的負載變化無需手動調整，從而確保在任何電流水平（高 10 安培）下輸出 10 μs 至 500 μs 脈沖時，脈沖均不會出現過沖和振蕩。脈沖上升時間 < 1.7 μs，確保您可以正確檢定被測器件或電路。

• 輸出 10 A @ 10 V，脈沖寬度為 10 μs

• 脈沖上升時間<1.7μs，可輕松檢定

• 高保真脈沖輸出，在任何電流水平下均無需調整

2.將快速脈沖發生器功能與 SMU 功能集成至一臺儀器中

2601B-PULSE 在業界*的吉時利 2601B SMU 儀器所提供的測量完整性、同步性、速度和準確性基礎上新增脈沖發生器功能。

• 通過 1 MS/s 的數字化功能，實現脈沖發生器 0.05% 的基本測量精度

• SMU 100 nA 低電流范圍與 100 fA 靈敏度

• 后面板 BNC 連接實現電纜快速設置

3.嵌入式腳本和連接提供大的生產吞吐量

測試腳本處理器 (TSP®) 技術可在 SMU 儀器內嵌入和執行完整測試程序，提供業界優的性能。TSP-Link® 技術支持擴展多達 32 個 TSP 鏈路節點，以創建高速、SMU-Per-Pin 并行測試（而不使用主機）。

• 消除與 PC 之間耗時的總線通信

• 高級數據處理和流量控制

• 連接多達 32 個 TSP 鏈路節點

• 隨著測試要求變化輕松重新配置

產品型號：